Шаблён:Зьмена абраных выяваў ПХім
Аўтарства: Kaspar Kallip
Рэнтгенаўская крышталеграфія — аналітычны мэтад вызначэньня атамнай і малекулярнай структуры крышталяў. Час экспазыцыі для гэтага фатаздымку склаў 90 с, у які ўвайшлі 80 с, патрэбныя дыфрактомэтру на „сканаваньне“ крышталю.
Дакумэнтацыя[стварыць]Пасля дапаўненьня сьпісу выяваў зьмяніць першы парамэтар у {{Выпадковы лік}} да новага максымальнага значэньня колькасьці выбраных выяваў.